Alford, Terry L, Feldman, Leonard C., Mayer, James W.: Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. New York, Springer, 2007. XIV, 336 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped.

• Kategorie: Technik
• Schlagwörter: Werkstofftechnik
• Sprache: Englisch (en)
• ISBN: 978-0-387-29260-1
• Bestellnummer: 1013JB

Unser Preis: EUR 14,--